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靜電測(cè)試水平耦合板為什么接兩個(gè)470K電阻，其作用是？發(fā)布時(shí)間：2023-11-27

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，靜電放電時(shí)都要進(jìn)行接觸放電中的間接放電試驗(yàn)，具體是測(cè)試桌上鋪一水平耦合板，邊上同時(shí)立一垂直耦合板，然后用靜電槍對(duì)水平和垂直耦合板進(jìn)行放電，看設(shè)備有無受到影響。這一測(cè)試是主要模擬人體對(duì)受試設(shè)備邊上其它物體放電（簡(jiǎn)單點(diǎn)如手拿鑰匙），間接測(cè)試受試設(shè)備有無受到影響。按照標(biāo)準(zhǔn)，水...

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2021
10-25

電磁兼容—必須突破的技術(shù)壁壘
一個(gè)傳導(dǎo)干擾就令70%的國產(chǎn)PC步入不合格產(chǎn)品行列，而傳導(dǎo)干擾只是電子產(chǎn)品電磁兼容的一個(gè)指標(biāo)。電磁兼容已經(jīng)成為制約我國電子產(chǎn)品出口的一個(gè)技術(shù)壁壘。電磁傳導(dǎo)——曾令70％的中小企業(yè)在質(zhì)檢中下馬早在1996年9月，國家技術(shù)監(jiān)督局會(huì)同原電子工業(yè)部...
2021
10-18

手機(jī)電磁兼容測(cè)試:ESD靜電放電問題盤點(diǎn)
靜電放電（ESD）的破壞作用具有隱蔽性、潛在性、隨機(jī)性和復(fù)雜性的特點(diǎn)。來自Intel的資料表明，在引起電子器件故障的諸多因素中，ESD是最大的隱患。所以，模擬靜電放電的測(cè)試在世界范圍內(nèi)得到廣泛關(guān)注。手機(jī)靜電放電失效的具體表現(xiàn)1.手機(jī)通話中斷...
2021
10-15

高頻噪聲模擬器（使用半導(dǎo)體繼電器）INS-S420
高頻噪聲模擬器（使用半導(dǎo)體繼電器）INS-S420為了解決市場(chǎng)上出現(xiàn)的問題此設(shè)備是模擬類似開關(guān)元件觸點(diǎn)之間的放電，電子馬達(dá)產(chǎn)生的電弧放電等，上升時(shí)間很快，高頻率的噪聲，來評(píng)價(jià)電子設(shè)備的抗干擾能力的測(cè)試設(shè)備。因?yàn)榘瑴y(cè)試脈沖中的頻率成分的脈沖...
2021
10-9

什么是電場(chǎng)耦合
在EMC中電場(chǎng)耦合是因?yàn)槲灰齐娏?displacementcurrent)的電容性效應(yīng)而產(chǎn)生。實(shí)際上我們并沒有要電流流經(jīng)某一特定方向，但是因?yàn)榻Y(jié)構(gòu)上形成的寄生電容對(duì)電流提供了一個(gè)低阻抗的路徑，該路徑的阻抗比設(shè)計(jì)上的電流路徑阻抗更低。因?yàn)殡娏?..
2021
9-24

產(chǎn)品EMC測(cè)試不通過，實(shí)驗(yàn)室測(cè)試環(huán)境問題不容忽視
產(chǎn)品無法在實(shí)驗(yàn)室通過測(cè)試，并不是產(chǎn)品本身EMC設(shè)計(jì)不好，而是實(shí)驗(yàn)室測(cè)試環(huán)境問題導(dǎo)致測(cè)試不通過。EMC是一個(gè)系統(tǒng)工程問題，要想達(dá)到最終的目的，除了對(duì)自己熟悉的產(chǎn)品外，測(cè)試及應(yīng)用環(huán)境等也應(yīng)該清楚掌握。作為一名EMC工程師，下面這些問題，都是你曾...
2021
9-14

IEC發(fā)布關(guān)于船舶電磁新標(biāo)準(zhǔn)的第一版
IEC（國際電工委員會(huì)）即將發(fā)布旨在保護(hù)非金屬船體免受電磁(EM)干擾的重要標(biāo)準(zhǔn)第一版，該文件旨在滿足IMOresolutionA.813(19)決議的要求。IEC62742ED1提供了關(guān)于如何在非金屬材料（包括玻璃纖維等各種復(fù)合材料）船體...

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